6 августа 2015

Первая в России конференция пользователей систем периферийного сканирования

Российское представительство JTAG Technologies и компания Остек-Электро провели первую в России конференцию пользователей систем периферийного сканирования. Встреча состоялась 2 июля 2015 года в городе Санкт-Петербурге на комфортабельном теплоходе.

Особенность данного мероприятия заключается в том, что основное внимание было уделено техническим докладам самих пользователей. Докладчики поделились со своими коллегами различными методиками создания тестов периферийного сканирования, путями решения нестандартных задач, показали высококлассные примеры проектов, созданных в программах JTAG ProVision и JTAG Live Studio.

Конференция собрала специалистов более чем с 20 российских предприятий. При этом с докладами выступили представители 6-ти предприятий. Кроме этого прозвучало 2 доклада от представителей JTAG Technologies. Среди затронутых тем следует отметить следующие: использование периферийного сканирования для тестирования многоплатных систем, тестирование высокоскоростных линий с использованием стандарта IEEE 1149.6, нестандартные подходы к программированию ПЗУ, микроконтроллеров и ПЛИС, функциональное тестирование законченных изделий с помощью JTAG, тестирование плат при ограниченном наборе данных КД, интеграция приложений, разработанных в JTAG ProVision в среду LabVIEW. Доклады основывались на примере собственных изделий, выпускаемых отечественными предприятиями. В дополнение к техническим докладам была представлена первая в России и СНГ образовательная программа по технологиям JTAG на базе Самарского Государственного Аэрокосмического Университета.

Информация с сайта elinform.ru по материалам www.jtag.com